База ГОСТ РФ
Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА → Интегральные схемы. Микроэлектроника *Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры *Микропроцессоры см. 35.160
31.200. Интегральные схемы. Микроэлектроника *Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры *Микропроцессоры см. 35.160
← 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 →
- Микросхемы интегральные. Методы измерения шумовых параметров операционных усилителей
Intergated microcircuits. Methods for measuring noise parameters of operational amplifiers
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает методы измерения:
нормированной э.д.с. шума и нормированного тока шума;
рахмаха шума - Микросхемы интегральные. Методы измерения шумовых параметров операционных усилителей
Intergated microcircuits. Methods for measuring noise parameters of operational amplifiers
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает методы измерения:
нормированной э.д.с. шума и нормированного тока шума;
рахмаха шума - Микросхемы интегральные. Методы измерения шумовых параметров операционных усилителей
Intergated microcircuits. Methods for measuring noise parameters of operational amplifiers
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает методы измерения:
нормированной э.д.с. шума и нормированного тока шума;
рахмаха шума - Микросхемы интегральные. Методы измерения частоты среза и частоты единичного усиления операционных усилителей
Integrated microcircuits. Measurement methods of the operational amplifiers cut-off frequency and unitary-gain frequency
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает методы измерения частоты среза и частоты единичного усиления:
метод 1 - измерение частоты среза с плавным изменением частоты входного сигнала; метод 2 - измерение частоты единичного усиления на фиксированной частоте - Микросхемы интегральные. Методы измерения частоты среза и частоты единичного усиления операционных усилителей
Integrated microcircuits. Measurement methods of the operational amplifiers cut-off frequency and unitary-gain frequency
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает методы измерения частоты среза и частоты единичного усиления:
метод 1 - измерение частоты среза с плавным изменением частоты входного сигнала; метод 2 - измерение частоты единичного усиления на фиксированной частоте - Микросхемы интегральные. Методы измерения частоты среза и частоты единичного усиления операционных усилителей
Integrated microcircuits. Measurement methods of the operational amplifiers cut-off frequency and unitary-gain frequency
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает методы измерения частоты среза и частоты единичного усиления:
метод 1 - измерение частоты среза с плавным изменением частоты входного сигнала; метод 2 - измерение частоты единичного усиления на фиксированной частоте - Микросхемы интегральные. Методы измерения времени задержки включения и выключения компараторов напряжения
Integrated microcircuits. Methods for measuring delay time of the switching on/off the voltage comparators
Настоящий стандарт распространяется на компараторы напряжения (КН) с двухполярным питанием и устанавливает два метода измерения времени задержки включения и выключения;
метод 1 - для измерения времени задержки включения и выключения КН при входном синфазном напряжении, отличном от 0 В. Метод рекомендуется применять в качестве основного для измерения параметров КН с временем задержки, превышающим или равным 20 нс;
метод 2 - для измерения времени задержки включения и выключения КН при входном синфазном напряжении, равном 0 В. Метод рекомендуется применять для измерения параметров КН с временем задержки, не превышающим 20 нс и в технически обоснованных случаях для остальных КН - Микросхемы интегральные. Методы измерения времени задержки включения и выключения компараторов напряжения
Integrated microcircuits. Methods for measuring delay time of the switching on/off the voltage comparators
Настоящий стандарт распространяется на компараторы напряжения (КН) с двухполярным питанием и устанавливает два метода измерения времени задержки включения и выключения;
метод 1 - для измерения времени задержки включения и выключения КН при входном синфазном напряжении, отличном от 0 В. Метод рекомендуется применять в качестве основного для измерения параметров КН с временем задержки, превышающим или равным 20 нс;
метод 2 - для измерения времени задержки включения и выключения КН при входном синфазном напряжении, равном 0 В. Метод рекомендуется применять для измерения параметров КН с временем задержки, не превышающим 20 нс и в технически обоснованных случаях для остальных КН - Микросхемы интегральные. Методы измерения времени задержки включения и выключения компараторов напряжения
Integrated microcircuits. Methods for measuring delay time of the switching on/off the voltage comparators
Настоящий стандарт распространяется на компараторы напряжения (КН) с двухполярным питанием и устанавливает два метода измерения времени задержки включения и выключения;
метод 1 - для измерения времени задержки включения и выключения КН при входном синфазном напряжении, отличном от 0 В. Метод рекомендуется применять в качестве основного для измерения параметров КН с временем задержки, превышающим или равным 20 нс;
метод 2 - для измерения времени задержки включения и выключения КН при входном синфазном напряжении, равном 0 В. Метод рекомендуется применять для измерения параметров КН с временем задержки, не превышающим 20 нс и в технически обоснованных случаях для остальных КН - Микросхемы интегральные. Метод измерения частоты полной мощности операционных усилителей
Integrated microcircuits. Method of measuring full power frequency of operational amplifiers
Настоящий стандарт устанавливает метод измерения частоты полной мощности опереционных усилителей
