База ГОСТ РФ
Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА → Интегральные схемы. Микроэлектроника *Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры *Микропроцессоры см. 35.160
31.200. Интегральные схемы. Микроэлектроника *Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры *Микропроцессоры см. 35.160
← 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 →
- Микросхемы интегральные. Метод измерения тока потребления и потребляемой мощности операционных усилителей и компараторов напряжения
Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers and voltage comparators consumption current and power
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и компараторы напряжения и устанавливает метод измерения тока потребления и потребляемой мощности - Микросхемы интегральные. Метод измерения тока потребления и потребляемой мощности операционных усилителей и компараторов напряжения
Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers and voltage comparators consumption current and power
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и компараторы напряжения и устанавливает метод измерения тока потребления и потребляемой мощности - Микросхемы интегральные. Метод измерения времени установления выходного напряжения операционных усилителей
Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers output voltage settling time
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения времени установления выходного напряжения - Микросхемы интегральные. Метод измерения времени установления выходного напряжения операционных усилителей
Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers output voltage settling time
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения времени установления выходного напряжения - Микросхемы интегральные. Метод измерения времени установления выходного напряжения операционных усилителей
Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers output voltage settling time
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения времени установления выходного напряжения - Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э.д.с смещения нуля операционных усилителей
Integrated circuits. Method of measuring the power sources instability effect on the operational amplifiers zero drift voltage and emf
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э.д.с. смещения нуля - Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э.д.с смещения нуля операционных усилителей
Integrated circuits. Method of measuring the power sources instability effect on the operational amplifiers zero drift voltage and emf
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э.д.с. смещения нуля - Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э.д.с смещения нуля операционных усилителей
Integrated circuits. Method of measuring the power sources instability effect on the operational amplifiers zero drift voltage and emf
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э.д.с. смещения нуля - Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа напряжения и э.д.с смещения нуля операционных усилителей
Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers average temperature voltage drift and zero offset emf
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения среднего температурного дрейфа напряжения и э.д.с - Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа напряжения и э.д.с смещения нуля операционных усилителей
Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers average temperature voltage drift and zero offset emf
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения среднего температурного дрейфа напряжения и э.д.с
