База ГОСТ РФ
Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА → Интегральные схемы. Микроэлектроника *Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры *Микропроцессоры см. 35.160
31.200. Интегральные схемы. Микроэлектроника *Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры *Микропроцессоры см. 35.160
← 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 →
- Приборы полупроводниковые. Часть 10. Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные микросхемы
Semiconductor devices. Part 10. General specification for discrete devices and integrated circuits
Настоящий стандарт устанавливает общие технические условия на полупроводниковые приборы, дискретные приборы и интегральные микросхемы, включая многокристальные микросхемы, за исключением оптоэлектронных приборов и интегральных микросхем - Приборы полупроводниковые. Часть 10. Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные микросхемы
Semiconductor devices. Part 10. General specification for discrete devices and integrated circuits
Настоящий стандарт устанавливает общие технические условия на полупроводниковые приборы, дискретные приборы и интегральные микросхемы, включая многокристальные микросхемы, за исключением оптоэлектронных приборов и интегральных микросхем - Приборы полупроводниковые. Часть 10. Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные микросхемы
Semiconductor devices. Part 10. General specification for discrete devices and integrated circuits
Настоящий стандарт устанавливает общие технические условия на полупроводниковые приборы, дискретные приборы и интегральные микросхемы, включая многокристальные микросхемы, за исключением оптоэлектронных приборов и интегральных микросхем - Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров схем управления импульсными стабилизаторами напряжения
Integrated circuits. Methods of measuring electrical parameters of puls voltage regulators operation circuits
Настоящий стандарт распространяется на схемы управления импульсными стабилизаторами напряжения (СУ ИСН) и устанавливает требования для методов измерения электрических параметров СУ ИСН: время нарастания импульса коммутируемого тока время спада импульса коммутируемого тока - Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров схем управления импульсными стабилизаторами напряжения
Integrated circuits. Methods of measuring electrical parameters of puls voltage regulators operation circuits
Настоящий стандарт распространяется на схемы управления импульсными стабилизаторами напряжения (СУ ИСН) и устанавливает требования для методов измерения электрических параметров СУ ИСН: время нарастания импульса коммутируемого тока время спада импульса коммутируемого тока - Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров схем управления импульсными стабилизаторами напряжения
Integrated circuits. Methods of measuring electrical parameters of puls voltage regulators operation circuits
Настоящий стандарт распространяется на схемы управления импульсными стабилизаторами напряжения (СУ ИСН) и устанавливает требования для методов измерения электрических параметров СУ ИСН: время нарастания импульса коммутируемого тока время спада импульса коммутируемого тока - Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 1. Общие положения
Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 1. General
Настоящий стандарт применяется для разработки технических условий на интегральные микросхемы, в том числе подлежащие сертификации.
Стандарт подготовлен методом прямого применения международного стандарта МЭК 748-1-84 “Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 1. Общие положения“и полностью ему соответствуют - Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 1. Общие положения
Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 1. General
Настоящий стандарт применяется для разработки технических условий на интегральные микросхемы, в том числе подлежащие сертификации.
Стандарт подготовлен методом прямого применения международного стандарта МЭК 748-1-84 “Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 1. Общие положения“и полностью ему соответствуют - Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 1. Общие положения
Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 1. General
Настоящий стандарт применяется для разработки технических условий на интегральные микросхемы, в том числе подлежащие сертификации.
Стандарт подготовлен методом прямого применения международного стандарта МЭК 748-1-84 “Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 1. Общие положения“и полностью ему соответствуют - Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 2. Цифровые интегральные схемы
Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 2. Digital integrated circuits
Настоящий стандарт применяется для разработки технических условий на интегральные микросхемы, в том числе подлежащие сертификации. Стандарт устанавливает требования для следующих классов и подклассов приборов: комбинаторные и последовательностные цифровые схемы; интегральные схемы запоминающих устройств; интегральные схемы микропроцессоров; приборы с переносом заряда.
Стандарт подготовлен методом прямого применения международного стандарта МЭК 748-2-85 “Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 2. Цифровые интегральные схемы“и полностью ему соответствует
