База ГОСТ РФ
Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА → Интегральные схемы. Микроэлектроника *Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры *Микропроцессоры см. 35.160
31.200. Интегральные схемы. Микроэлектроника *Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры *Микропроцессоры см. 35.160
← 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 →
- Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа напряжения и э.д.с смещения нуля операционных усилителей
Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers average temperature voltage drift and zero offset emf
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения среднего температурного дрейфа напряжения и э.д.с - Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа входных токов и разности входных токов операционных усилителей
Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers input bias current temperature drift and input currents
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения среднего температурного дрейфа разности входных токов и входных токов - Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа входных токов и разности входных токов операционных усилителей
Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers input bias current temperature drift and input currents
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения среднего температурного дрейфа разности входных токов и входных токов - Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа входных токов и разности входных токов операционных усилителей
Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers input bias current temperature drift and input currents
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения среднего температурного дрейфа разности входных токов и входных токов - Микросхемы интегральные. Метод измерения максимальной скорости и времени нарастания выходного напряжения операционных усилителей
Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers output voltage maximum build-up rate and time
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения максимальной скорости и времени нарастания выходного напряжения - Микросхемы интегральные. Метод измерения максимальной скорости и времени нарастания выходного напряжения операционных усилителей
Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers output voltage maximum build-up rate and time
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения максимальной скорости и времени нарастания выходного напряжения - Микросхемы интегральные. Метод измерения максимальной скорости и времени нарастания выходного напряжения операционных усилителей
Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers output voltage maximum build-up rate and time
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения максимальной скорости и времени нарастания выходного напряжения - Микросхемы интегральные. Методы измерения коэффициента ослабление синфазных входных напряжений операционных усилителей и компараторов напряжения
Integrated circuits. Methods of measuring the operational amplifiers and voltage comparators input common mode voltage rejection ratio
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители (ОУ) и компараторы напряжения (КН) и устанавливает методы измерения коэффициента ослабления синфазных входных напряжений:
1 - метод с подачей синфазных входных напряжений на входы проверяемого ОУ или КН через резистивный мост;
2 - метод с подачей синфазных входных напряжений посредством изменения напряжения питания - Микросхемы интегральные. Методы измерения коэффициента ослабление синфазных входных напряжений операционных усилителей и компараторов напряжения
Integrated circuits. Methods of measuring the operational amplifiers and voltage comparators input common mode voltage rejection ratio
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители (ОУ) и компараторы напряжения (КН) и устанавливает методы измерения коэффициента ослабления синфазных входных напряжений:
1 - метод с подачей синфазных входных напряжений на входы проверяемого ОУ или КН через резистивный мост;
2 - метод с подачей синфазных входных напряжений посредством изменения напряжения питания - Микросхемы интегральные. Методы измерения коэффициента ослабление синфазных входных напряжений операционных усилителей и компараторов напряжения
Integrated circuits. Methods of measuring the operational amplifiers and voltage comparators input common mode voltage rejection ratio
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители (ОУ) и компараторы напряжения (КН) и устанавливает методы измерения коэффициента ослабления синфазных входных напряжений:
1 - метод с подачей синфазных входных напряжений на входы проверяемого ОУ или КН через резистивный мост;
2 - метод с подачей синфазных входных напряжений посредством изменения напряжения питания
