База ГОСТ РФ
Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА
31. ЭЛЕКТРОНИКА
← 1 2 3 4 5 … 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 … 232 233 234 235 236 →
- Варикапы. Метод измерения добротности
Variable capacitance diodes. Method for measuring the quality factor
Настоящий стандарт распространяется на варикапы емкостью более 4 пФ в диапазоне частот 0,25-1000 МГц и устанавливает два метода измерения добротности варикапов - Варикапы. Метод измерения добротности
Variable capacitance diodes. Method for measuring the quality factor
Настоящий стандарт распространяется на варикапы емкостью более 4 пФ в диапазоне частот 0,25-1000 МГц и устанавливает два метода измерения добротности варикапов - Варикапы. Метод измерения добротности
Variable capacitance diodes. Method for measuring the quality factor
Настоящий стандарт распространяется на варикапы емкостью более 4 пФ в диапазоне частот 0,25-1000 МГц и устанавливает два метода измерения добротности варикапов - Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим
Semiconductor diodes. Reference zener diodes. Method for measuring warm up time
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые прецизионные стабилитроны, имеющие нормированную временную нестабильность напряжения стабилизации и устанавливает метод измерения времени выхода стабилитронов на режим tвых. и требования безопасности - Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим
Semiconductor diodes. Reference zener diodes. Method for measuring warm up time
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые прецизионные стабилитроны, имеющие нормированную временную нестабильность напряжения стабилизации и устанавливает метод измерения времени выхода стабилитронов на режим tвых. и требования безопасности - Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим
Semiconductor diodes. Reference zener diodes. Method for measuring warm up time
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые прецизионные стабилитроны, имеющие нормированную временную нестабильность напряжения стабилизации и устанавливает метод измерения времени выхода стабилитронов на режим tвых. и требования безопасности - Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации
Reference diodes and stabistors. Method for measuring time drift of working voltage
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и стабисторы и устанавливает метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации - Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации
Reference diodes and stabistors. Method for measuring time drift of working voltage
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и стабисторы и устанавливает метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации - Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации
Reference diodes and stabistors. Method for measuring time drift of working voltage
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и стабисторы и устанавливает метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации - Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления
Reference diodes. Methods for measuring differential resistance
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения дифференциального сопротивления: на переменном токе; на постоянном токе
← 1 2 3 4 5 … 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 … 232 233 234 235 236 →
