База ГОСТ РФ
Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА
31. ЭЛЕКТРОНИКА
← 1 2 3 4 5 … 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 … 232 233 234 235 236 →
- Микросхемы интегральные аналоговые. Методы измерения электрических параметров и определения характеристик
Analog integrated circuits. Methods for measurement of electric parameters and determination of responses
Настоящий стандарт распространяется на интегральные аналоговые микросхемы и устанавливает методы измерения электрических параметров и определения характеристик. Стандарт не распространяется на коммутаторы и ключи, на компараторы напряжения в части методов 1580, 1581, 2500, 2501 и операционные усилители - Излучатели полупроводниковые. Общие требования при измерении параметров
Semiconductor emitters. Methods for measurement of parameters. General principles
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели и устанавливает положения, общие для стандартов на методы измерений спектрофотометрических, преобразовательных и электрических параметров полупроводниковых излучателей. Стандарт входит в комплекс государственных стандартов на методы измерения параметров полупроводниковых излучателей - Излучатели полупроводниковые. Общие требования при измерении параметров
Semiconductor emitters. Methods for measurement of parameters. General principles
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели и устанавливает положения, общие для стандартов на методы измерений спектрофотометрических, преобразовательных и электрических параметров полупроводниковых излучателей. Стандарт входит в комплекс государственных стандартов на методы измерения параметров полупроводниковых излучателей - Излучатели полупроводниковые. Общие требования при измерении параметров
Semiconductor emitters. Methods for measurement of parameters. General principles
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели и устанавливает положения, общие для стандартов на методы измерений спектрофотометрических, преобразовательных и электрических параметров полупроводниковых излучателей. Стандарт входит в комплекс государственных стандартов на методы измерения параметров полупроводниковых излучателей - Излучатели полупроводниковые. Методы измерения силы излучения и энергетической яркости
Semiconductor emitters. Methods for measurement of radiant intensity and radiance
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели некогерентного излучения, в том числе бескорпусные и устанавливает методы измерения силы излучения: метод непосредственной оценки;
метод замещения;
методы измерения энергетической яркости: прямой и косвенный - Излучатели полупроводниковые. Методы измерения силы излучения и энергетической яркости
Semiconductor emitters. Methods for measurement of radiant intensity and radiance
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели некогерентного излучения, в том числе бескорпусные и устанавливает методы измерения силы излучения: метод непосредственной оценки;
метод замещения;
методы измерения энергетической яркости: прямой и косвенный - Излучатели полупроводниковые. Метод измерения относительного спектрального распределения энергии излучения и ширины спектра излучения
Semiconductor emitters. Methods for measuring of relative spectral energy distribution and spectral bandwidth
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели некогерентного излучения и устанавливает метод измерения относительного спектрального распределения энергии излучения и ширины спектра излучения - Излучатели полупроводниковые. Метод измерения относительного спектрального распределения энергии излучения и ширины спектра излучения
Semiconductor emitters. Methods for measuring of relative spectral energy distribution and spectral bandwidth
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели некогерентного излучения и устанавливает метод измерения относительного спектрального распределения энергии излучения и ширины спектра излучения - Излучатели полупроводниковые. Метод измерения относительного спектрального распределения энергии излучения и ширины спектра излучения
Semiconductor emitters. Methods for measuring of relative spectral energy distribution and spectral bandwidth
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели некогерентного излучения и устанавливает метод измерения относительного спектрального распределения энергии излучения и ширины спектра излучения - Диоды полупроводниковые излучающие инфракрасные. Методы измерения мощности излучения
Semiconductor radiating infra-red diodes. Methods of measurement of radiation power
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые инфракрасные излучающие диоды некогерентного излучения и устанавливает методы измерения мощности излучения от 1 до 5 Вт в диапазоне длин волн 0,7-2,0 мкм: метод непосредственной оценки и метод замещения
← 1 2 3 4 5 … 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 … 232 233 234 235 236 →
